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梅特勒XPE分析天平

梅特勒XPE分析天平

產(chan)品時間:2022-06-09

簡要描述:

梅特勒XPE分析天平(ping)將稱(cheng)量與(yu)眾多(duo)智能特性(xing)相結(jie)合,讓您的(de)日常稱(cheng)量任(ren)務變得準(zhun)確無誤。您不僅可以體驗到新超越系列分析天平(ping)提供的(de)稱(cheng)量性(xing)能,更可以確保全面的(de)法規*性(xing),以及至高的(de)過程安(an)全性(xing)。

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梅特勒(le)-托利多(duo)推出新超越系列XPE新一(yi)(yi)代(dai)分析(xi)天平(ping),將(jiang)實(shi)驗室稱量帶到了一(yi)(yi)個(ge)嶄新的高度!

 

1、*的天平狀態指示燈功能,讓天平稱量變得智能化;
2、RFID射頻識別技術,可與移液器等其他實驗室快速無線通訊;
3、的防靜電技術,確保稱量的準確性; 
4、帶紅外感應器,無需接觸天平,只要揮揮手就能實現開關門、打印、去皮等操作; 
5、高(gao)分辨率后置傳感器(qi),內置兩組(zu)校(xiao)正(zheng)砝(fa)碼。

 

梅特勒XPE分(fen)析天平(ping)將稱量與眾多智(zhi)能特性相(xiang)結合,讓(rang)您(nin)的日常(chang)稱量任務變(bian)得準確(que)無(wu)誤(wu)。您(nin)不僅可(ke)以體驗到新超越系列分析天平提供的稱量性能,更可(ke)以確(que)保(bao)全面的法規*性,以及至高的過程安(an)全性。

 

儀器無憂——我明白稱量(liang)很安(an)全(quan)!

梅特勒XPE分析天平是全新(xin)智能安全工具(ju)可(ke)(ke)監(jian)控天平(ping)的狀(zhuang)(zhuang)態(tai),以確(que)保安全地(di)開(kai)始稱(cheng)量任務。創新(xin)的狀(zhuang)(zhuang)態(tai)指(zhi)示燈(StatusLight)讓您只需看一眼(yan)即(ji)可(ke)(ke)了(le)解稱(cheng)量是否開(kai)啟綠燈:執行了(le)的天平(ping)校準和日常(chang)(chang)測(ce)試,天平(ping)處(chu)于水平(ping)狀(zhuang)(zhuang)態(tai)且性能正常(chang)(chang)。

 

樣品無憂——再也(ye)不(bu)受靜電問題(ti)困(kun)擾!

靜電(dian)是分析稱量過程面臨的主(zhu)要(yao)挑戰。正(zheng)常操作(zuo)時(shi),容(rong)器和(he)樣(yang)(yang)品(pin)很容(rong)易吸附(fu)靜電(dian)荷(he),從而導(dao)致稱量誤差(cha)。電(dian)荷(he)也可(ke)使粉(fen)末狀(zhuang)顆粒飄散,這在處(chu)理昂貴或有毒物質時(shi)容(rong)易造成額外的問題。新超越系列天平的智能(neng)靜電(dian)檢測和(he)去靜電(dian)解決方案可(ke)避免稱量誤差(cha),并使樣(yang)(yang)品(pin)處(chu)理更(geng)加簡單安全。

 

過程無(wu)憂——減少錯誤(wu)的又一里程碑!

梅特勒-托利多(duo)的(de)LabX軟(ruan)件(jian)可(ke)顯著(zhu)提升實驗室的(de)影響力,是保(bao)證過(guo)程安全(quan)性和(he)管理稱量不確(que)定性的(de)*解決方案。LabX在提供基于天平觸(chu)摸屏(ping)的(de)靈活的(de)SOP用戶(hu)向(xiang)導方面*。自動數(shu)據處理、計算和(he)生成報告意(yi)味著(zhu)再也不需要(yao)通過(guo)手工記錄,避免了抄(chao)錄誤差并確(que)保(bao)了*可(ke)追溯性。新超(chao)越系列天平輕(qing)松地滿足至高(gao)過(guo)程安全(quan)要(yao)求(qiu),并幫助您建立(li)無紙化實驗室。

 

狀態指示燈

狀態指示燈(deng)清晰地顯示天平是(shi)否已(yi)準(zhun)備好開始稱量任務(wu)。綠色(se)表(biao)示天平準(zhun)備運行,黃色(se)表(biao)示天平通過TestManager連接至日常測試,紅色(se)表(biao)示對天平失去平衡等錯誤立即采取(qu)糾正措施(shi)。

使用天(tian)平(ping)觸摸屏,可在Test-Manager嵌入式軟(ruan)件中進(jin)行SOP測試(shi)。無論何時進(jin)行測試(shi),都會在屏幕上顯(xian)示(shi)消息,您只需(xu)遵循隨附的(de)測試(shi)說明即可。

 

*稱量結果

除了(le)稱量舒適度外,獲(huo)得的(de)測量技術還在(zai)發揮著幕后作用,為(wei)您提供zui高的(de)分(fen)辨率、zui為(wei)快速和zui可靠的(de)結果以及(ji)zui低的(de)zui小稱量值(僅14mg)!

 

良好的稱量規范

清潔、安全

SmartGrid網格稱盤(pan):所有溢出的(de)樣品都(dou)可通過秤盤(pan)落下(xia),而不會影響(xiang)您的(de)稱量(liang)結果(guo),下(xia)方的(de)滴盤(pan)可輕(qing)松(song)地(di)捕獲溢漏(lou)的(de)任何固(gu)體(ti)和液(ye)體(ti),以便(bian)安全處理。

防風罩:zui大限度降低樣品污染風險:防風罩和滴盤無需工具即可在數秒鐘內*拆卸。
可(ke)在洗碗機中安全清洗:所有(you)部件均可(ke)在洗碗機中方便、*地清潔。

 

梅特勒XPE分析天平技術參數

zui大量程(cheng)為520g,可(ke)讀性為0.005mg/0.1mg

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