梅特勒-托利多推出新(xin)超(chao)越系列(lie)XPE新(xin)一代分析天平，將實(shi)驗室稱量帶到了一個(ge)嶄新(xin)的(de)高度！

1、*的天平狀態指示燈功能，讓天平稱量變得智能化；
2、RFID射頻識別技術，可與移液器等其他實驗室快速無線通訊；
3、的防靜電技術，確保稱量的準確性； 
4、帶紅外感應器，無需接觸天平，只要揮揮手就能實現開關門、打印、去皮等操作； 
5、高分辨(bian)率后置傳感器，內置兩組校正砝碼。

梅特勒XPE分析(xi)天平(ping)將(jiang)稱量與眾多智(zhi)能(neng)特性(xing)相結合，讓您(nin)的日常稱量任(ren)務變得準確無誤。您(nin)不僅可(ke)以體(ti)(ti)驗到新超越系列分析天平提供的稱量性(xing)能(neng)，更可(ke)以確保全(quan)面(mian)的法規*性(xing)，以及至高的過程(cheng)安(an)全(quan)性(xing)。

儀器(qi)無憂(you)——我明白稱量很安全(quan)！

梅特勒XPE分析天平是全(quan)(quan)新(xin)智能安(an)全(quan)(quan)工具可監控天(tian)平的狀態，以確保安(an)全(quan)(quan)地(di)開始(shi)稱量(liang)任務。創新(xin)的狀態指(zhi)示(shi)燈(deng)(StatusLight)讓您只(zhi)需看一眼即可了解稱量(liang)是否(fou)開啟綠(lv)燈(deng)：執行了的天(tian)平校準和日常測試，天(tian)平處于水平狀態且性(xing)能正(zheng)常。

樣品無憂——再(zai)也不受靜電(dian)問題困擾！

靜(jing)電(dian)(dian)是分析稱(cheng)量過程(cheng)面臨(lin)的主要挑戰(zhan)。正(zheng)常(chang)操作時(shi)，容(rong)(rong)器和(he)樣品很容(rong)(rong)易吸附靜(jing)電(dian)(dian)荷，從而(er)導致(zhi)稱(cheng)量誤(wu)差(cha)。電(dian)(dian)荷也可使(shi)粉末(mo)狀顆粒飄散(san)，這在處理昂貴或有毒物質時(shi)容(rong)(rong)易造成額外的問題。新超越系(xi)列天平的智能靜(jing)電(dian)(dian)檢測和(he)去(qu)靜(jing)電(dian)(dian)解決方(fang)案(an)可避免(mian)稱(cheng)量誤(wu)差(cha)，并使(shi)樣品處理更(geng)加簡(jian)單安(an)全。

過程無憂——減(jian)少錯誤的又(you)一里(li)程碑！

梅特勒(le)-托利多的LabX軟(ruan)件可顯著提(ti)升實驗室(shi)的影響力，是保證過程安全(quan)性和(he)管理稱量不確定性的*解(jie)決方案。LabX在提(ti)供基于天(tian)平觸摸屏的靈活的SOP用戶(hu)向導方面*。自動數據處理、計算和(he)生成(cheng)報告意(yi)味著再也不需(xu)要通(tong)過手工記(ji)錄，避免了抄錄誤差并確保了*可追溯性。新超越(yue)系列(lie)天(tian)平輕松地滿足至高(gao)過程安全(quan)要求，并幫助(zhu)您建立(li)無紙化實驗室(shi)。

狀態指(zhi)示燈

狀態(tai)指示燈(deng)清晰(xi)地(di)顯示天(tian)(tian)平(ping)(ping)是(shi)否已準備好開始(shi)稱量任務。綠色表示天(tian)(tian)平(ping)(ping)準備運行，黃色表示天(tian)(tian)平(ping)(ping)通過TestManager連接至日(ri)常(chang)測試，紅(hong)色表示對天(tian)(tian)平(ping)(ping)失去平(ping)(ping)衡等(deng)錯(cuo)誤立即采取糾正措(cuo)施。

使用(yong)天平觸摸屏，可在Test-Manager嵌入式軟(ruan)件(jian)中進行SOP測(ce)試(shi)。無論何時進行測(ce)試(shi)，都會在屏幕上顯示(shi)消息，您只需遵循(xun)隨附的(de)測(ce)試(shi)說明即(ji)可。

*稱量結果

除了稱量舒適度外，獲得的測量技術還在發揮著幕后(hou)作用，為(wei)您提供zui高的分辨(bian)率、zui為(wei)快速和zui可(ke)靠的結果以(yi)及zui低(di)的zui小稱量值（僅14mg）！

良好的稱量規范

清潔、安全

SmartGrid網(wang)格(ge)稱(cheng)盤(pan)：所有溢出的樣品都(dou)可(ke)通過(guo)秤盤(pan)落下，而不會影響您的稱(cheng)量結果，下方的滴盤(pan)可(ke)輕松地捕獲溢漏的任何固體和液體，以(yi)便(bian)安全(quan)處(chu)理。

防風罩：zui大限度降低樣品污染風險：防風罩和滴盤無需工具即可在數秒鐘內*拆卸。
可(ke)在洗碗(wan)機(ji)(ji)中(zhong)安全清洗：所有部件均可(ke)在洗碗(wan)機(ji)(ji)中(zhong)方(fang)便、*地(di)清潔。

梅特勒XPE分析天平技術參數

zui大秤量220 g/81 g

可讀性0.01 mg;0.005 mg

zui小稱量值 (USP)，典型值10 mg

重復性（校驗砝碼）0.01 mg (10 g)

線性誤差（典型值）±0.1 mg

穩定時間2.5 s

尺寸 (高x寬)322 mm x 263 mm