在超越系(xi)列XP/XS分析天(tian)(tian)平分析天(tian)(tian)平市(shi)場10年之(zhi)際,梅(mei)特(te)勒-托利多(duo)于2014年推出新(xin)超越系(xi)列XPE/XSE新(xin)一代分析天(tian)(tian)平,將稱量智(zhi)能化推向了*的高度(du)!

梅特勒XSE 分析天平將稱量與眾多智(zhi)能特性(xing)相結合，讓您的(de)(de)日常(chang)稱量任務(wu)變得準確無誤。您不僅可以體(ti)驗到新超越系列分(fen)析天平提供的(de)(de)稱量性(xing)能，更可以確保全(quan)面的(de)(de)法(fa)規*性(xing)，以及(ji)至高的(de)(de)過程安全(quan)性(xing)。

儀器(qi)無憂(you)——我(wo)明白稱量(liang)很(hen)安(an)全！

全新智能(neng)安(an)全工具可監控天(tian)平的(de)狀態(tai)(tai)(tai)，以確(que)保安(an)全地開始稱(cheng)量(liang)任務。創新的(de)狀態(tai)(tai)(tai)指(zhi)示燈(StatusLight)讓您只需看一(yi)眼(yan)即可了解稱(cheng)量(liang)是否(fou)開啟綠燈：執行(xing)了的(de)天(tian)平校(xiao)準(zhun)和日(ri)常測試，天(tian)平處于水平狀態(tai)(tai)(tai)且性能(neng)正常。

樣品無憂——再也不受靜電問(wen)題(ti)困(kun)擾！

靜(jing)(jing)電是分析稱(cheng)量過程面臨(lin)的主要挑戰。正常操(cao)作時，容(rong)器(qi)和樣(yang)品(pin)很容(rong)易吸附靜(jing)(jing)電荷，從而導致(zhi)稱(cheng)量誤差。電荷也可使粉(fen)末狀顆粒飄(piao)散，這在處(chu)(chu)理昂貴或有毒物質時容(rong)易造成額外的問(wen)題。新超越系列天平的智(zhi)能靜(jing)(jing)電檢(jian)測和去靜(jing)(jing)電解決方案(an)可避免稱(cheng)量誤差，并使樣(yang)品(pin)處(chu)(chu)理更(geng)加簡單安全(quan)。

過程(cheng)無憂——減(jian)少錯誤(wu)的又一里程碑！

梅特勒(le)-托利多的(de)LabX軟件可顯著(zhu)提(ti)升實驗室的(de)影響(xiang)力，是(shi)保證過程安(an)全性和(he)管理(li)稱量不(bu)確定性的(de)*解決方(fang)案。LabX在提(ti)供基于(yu)天(tian)平(ping)觸摸(mo)屏的(de)靈(ling)活的(de)SOP用戶(hu)向導方(fang)面*。自動數據處理(li)、計算和(he)生成報(bao)告意味著(zhu)再也(ye)不(bu)需要通(tong)過手工記錄(lu)(lu)，避(bi)免了(le)(le)抄錄(lu)(lu)誤差并(bing)確保了(le)(le)*可追溯性。新超越(yue)系列天(tian)平(ping)輕松地滿足至高過程安(an)全要求，并(bing)幫助您(nin)建立無(wu)紙化實驗室。

狀態指示燈

狀態指示燈清晰地顯(xian)示天(tian)平(ping)(ping)是否(fou)已準備好開始稱(cheng)量(liang)任(ren)務(wu)。綠色(se)表(biao)示天(tian)平(ping)(ping)準備運行，黃色(se)表(biao)示天(tian)平(ping)(ping)通過TestManager連接至日常測試，紅色(se)表(biao)示對(dui)天(tian)平(ping)(ping)失去平(ping)(ping)衡等錯誤立(li)即采(cai)取糾正措施(shi)。

使用天平(ping)觸(chu)摸屏(ping)，可(ke)在Test-Manager嵌入式軟件中進行SOP測試。無論何時進行測試，都會在屏(ping)幕上顯示消息，您只需遵循隨(sui)附的測試說(shuo)明即可(ke)。

*稱量結果(guo)

除了稱量(liang)舒適度外，獲(huo)得的測(ce)量(liang)技術還在發揮著幕后作用，為您提供(gong)zui高的分(fen)辨(bian)率、zui為快速(su)和zui可靠的結(jie)果以及zui低的zui小稱量(liang)值（僅14mg）！

梅特勒XSE 分析天平采用*的設計，將稱重傳感器和(he)電(dian)子元件(jian)安裝在天平的背部。 您可獲(huo)得(de)的利(li)益：不(bu)受散熱影響且(qie)易于清潔，因此可獲(huo)得(de)更(geng)好的稱量性能。 獲(huo)得(de)的設計具(ju)備(bei)以(yi)下(xia)關鍵(jian)特征：

• SmartGrid技術能夠以zui快速、清潔的方(fang)式完成稱量任務

• 內(nei)部(bu)(bu)溫度控制(ITC)裝置無(wu)需(xu)單或(huo)外部(bu)(bu)電子(zi)元件即可確(que)保獲得zui小稱量值(zhi)。

• proFACT 版本(ben)確保準確性和溫度穩定(ding)性并符(fu)合內部(bu)測(ce)試規(gui)定(ding)

良(liang)好的(de)稱(cheng)量規范

新型(xing)XSE和XPE分(fen)析天(tian)平依照(zhao)GWP研發而成。 梅特勒(le)-托利(li)多開發出GWP(Good Weighing Practice)，作(zuo)為(wei)安全選擇、校準(zhun)和操作(zuo)稱重(zhong)設備(bei)的(de)標準(zhun)化科學(xue)方法。GWP提供的(de)可(ke)(ke)再現性稱重(zhong)結(jie)果書(shu)面(mian)憑證符合當前所有實驗室和制(zhi)造業的(de)質量(liang)標準(zhun)。 關注穩定的(de)過程、*的(de)產品質量(liang)、精益制(zhi)造或遵守(shou)法規的(de)用(yong)(yong)戶可(ke)(ke)使用(yong)(yong)GWP作(zuo)為(wei)選擇和校準(zhun)其(qi)稱重(zhong)設備(bei)的(de)基準(zhun)。

清潔、安全(quan)

• SmartGrid網(wang)格稱(cheng)盤：所有溢出的樣品都(dou)可(ke)通過秤(cheng)盤落下(xia)，而不會影響您的稱量結果，下(xia)方的滴盤可(ke)輕(qing)松(song)地捕(bu)獲(huo)溢漏(lou)的任(ren)何固體(ti)和(he)液體(ti)，以(yi)便安全處(chu)理。

• 防(fang)風罩：zui大限度降低樣品污染風(feng)險：防(fang)風(feng)罩和(he)滴盤無需(xu)工(gong)具即可在數秒鐘內*拆卸(xie)。

• 可在洗(xi)(xi)碗機中(zhong)安全(quan)清(qing)洗(xi)(xi)：所有部件均可在洗碗機中方便(bian)、*地清潔。

技術(shu)參數(shu)