梅特勒(le)-托利多推出新(xin)超(chao)越系列XPE新(xin)一代分析天平，將實驗(yan)室(shi)稱(cheng)量帶到(dao)了(le)一個嶄新(xin)的(de)高度！

1、*的天平狀態指示燈功能，讓天平稱量變得智能化；
2、RFID射頻識別技術，可與移液器等其他實驗室快速無線通訊；
3、的防靜電技術，確保稱量的準確性； 
4、帶紅外感應器，無需接觸天平，只要揮揮手就能實現開關門、打印、去皮等操作； 
5、高分辨率后置(zhi)傳(chuan)感(gan)器，內置(zhi)兩(liang)組(zu)校正砝碼。

梅特勒(le)XPE分析天平將稱(cheng)量(liang)與眾多智(zhi)能特(te)性相(xiang)結合，讓您的(de)日(ri)常(chang)稱(cheng)量(liang)任務變(bian)得準(zhun)確無(wu)誤。您不僅可(ke)以體驗(yan)到新超越(yue)系列(lie)分析天平提供的(de)稱(cheng)量(liang)性能，更可(ke)以確保全面的(de)法(fa)規*性，以及至高的(de)過程安全性。

儀器(qi)無憂——我明白(bai)稱量(liang)很安全！

梅特勒XPE分析天平是全(quan)(quan)新智能(neng)(neng)安全(quan)(quan)工具可監(jian)控天(tian)平(ping)的狀(zhuang)態，以確保安全(quan)(quan)地開始稱(cheng)量任務。創新的狀(zhuang)態指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了(le)解(jie)稱(cheng)量是否開啟(qi)綠燈：執行(xing)了(le)的天(tian)平(ping)校(xiao)準和(he)日常(chang)測試，天(tian)平(ping)處(chu)于水平(ping)狀(zhuang)態且性(xing)能(neng)(neng)正常(chang)。

樣品無憂——再也不受(shou)靜電問題困擾！

靜(jing)電(dian)(dian)是分析稱(cheng)量過程(cheng)面臨的主(zhu)要挑(tiao)戰。正常操作時(shi)，容(rong)器和(he)樣(yang)品很容(rong)易(yi)吸附靜(jing)電(dian)(dian)荷(he)(he)，從而導(dao)致稱(cheng)量誤(wu)差。電(dian)(dian)荷(he)(he)也可使(shi)粉末狀顆粒(li)飄散，這在(zai)處理昂(ang)貴或有毒物質時(shi)容(rong)易(yi)造(zao)成額外的問題(ti)。新超(chao)越(yue)系列天平的智(zhi)能靜(jing)電(dian)(dian)檢測和(he)去(qu)靜(jing)電(dian)(dian)解(jie)決方案(an)可避免(mian)稱(cheng)量誤(wu)差，并使(shi)樣(yang)品處理更加(jia)簡單安全。

過程無憂——減少(shao)錯誤(wu)的又一(yi)里(li)程碑！

梅特勒-托利多(duo)的(de)LabX軟件可顯著(zhu)提(ti)升實驗室的(de)影響(xiang)力，是保(bao)證過程安全性和(he)管(guan)理稱量不確(que)定性的(de)*解決方案。LabX在提(ti)供基于天平(ping)觸摸屏的(de)靈活的(de)SOP用戶向導(dao)方面*。自動數據處理、計算(suan)和(he)生成報告意(yi)味著(zhu)再也不需要(yao)通過手工(gong)記錄，避免了抄(chao)錄誤(wu)差并確(que)保(bao)了*可追溯性。新(xin)超越系列天平(ping)輕松(song)地滿(man)足至高過程安全要(yao)求(qiu)，并幫助您建立無(wu)紙化實驗室。

狀態指示燈

狀態指(zhi)示(shi)燈清(qing)晰(xi)地顯示(shi)天平是否已準備好開始稱(cheng)量(liang)任務(wu)。綠色表示(shi)天平準備運行，黃色表示(shi)天平通過TestManager連(lian)接(jie)至日常測(ce)試，紅色表示(shi)對天平失去平衡等(deng)錯誤立(li)即采取糾(jiu)正措(cuo)施。

使(shi)用天(tian)平(ping)觸摸屏(ping)(ping)，可在Test-Manager嵌入式軟件(jian)中進(jin)行SOP測(ce)試(shi)。無論何時進(jin)行測(ce)試(shi)，都會在屏(ping)(ping)幕上顯示(shi)消息，您只需遵循(xun)隨附(fu)的測(ce)試(shi)說明即(ji)可。

*稱量(liang)結果

除了稱(cheng)量舒適(shi)度外(wai)，獲得的測量技術還在(zai)發揮(hui)著幕后(hou)作用(yong)，為(wei)您(nin)提(ti)供zui高的分辨(bian)率(lv)、zui為(wei)快速和zui可(ke)靠的結果以(yi)及zui低的zui小稱(cheng)量值（僅14mg）！

良好的稱量規范

清潔、安全

SmartGrid網(wang)格(ge)稱盤(pan)(pan)：所有(you)溢(yi)出的樣品都可通過秤(cheng)盤(pan)(pan)落(luo)下(xia)，而不會影響您的稱量(liang)結果，下(xia)方(fang)的滴盤(pan)(pan)可輕松地(di)捕獲溢(yi)漏的任(ren)何固體和液(ye)體，以便安全(quan)處理。

防風罩：zui大限度降低樣品污染風險：防風罩和滴盤無需工具即可在數秒鐘內*拆卸。
可(ke)在洗(xi)(xi)碗(wan)(wan)機(ji)中(zhong)安全清洗(xi)(xi)：所有(you)部件均可(ke)在洗(xi)(xi)碗(wan)(wan)機(ji)中(zhong)方便、*地清潔(jie)。

梅特勒XPE分析天平技術參數

zui大秤量    120 g/41 g

可讀性      0.1 mg;0.01 mg

zui小稱量值 (USP)，典型值   14 mg

重復性（校驗砝碼）   0.015 mg (5 g)

線性誤差（典型值）   ±0.1 mg

穩定時間      1.5 s

尺寸 (高x寬)   322 mm x 263 mm