梅特勒(le)-托利多推出新超(chao)越(yue)系(xi)列XPE新一代分析天(tian)平，將實驗(yan)室稱量(liang)帶到了(le)一個嶄新的(de)高(gao)度(du)！

1、*的天平狀態指示燈功能，讓天平稱量變得智能化；
2、RFID射頻識別技術，可與移液器等其他實驗室快速無線通訊；
3、的防靜電技術，確保稱量的準確性； 
4、帶紅外感應器，無需接觸天平，只要揮揮手就能實現開關門、打印、去皮等操作； 
5、高分辨率后置(zhi)傳感器，內置(zhi)兩組校正砝碼。

梅特勒XPE分析天平(ping)將稱(cheng)量與眾多智能特性相結合(he)，讓(rang)您(nin)(nin)的日(ri)常稱(cheng)量任務變得準確(que)(que)無誤。您(nin)(nin)不(bu)僅可(ke)以(yi)體驗到新超越系列(lie)分(fen)析天(tian)平提供的稱(cheng)量性能，更可(ke)以(yi)確(que)(que)保全(quan)面(mian)的法規*性，以(yi)及至高(gao)的過程安全(quan)性。

儀器無(wu)憂(you)——我明白(bai)稱量很安全！

梅特勒XPE分析天平是全新(xin)智能(neng)安(an)全工(gong)具可監控(kong)天(tian)平(ping)(ping)(ping)的(de)狀態，以(yi)確保安(an)全地開始稱量任務。創新(xin)的(de)狀態指(zhi)示燈(StatusLight)讓(rang)您只需看一(yi)眼即可了(le)解(jie)稱量是否開啟(qi)綠燈：執行了(le)的(de)天(tian)平(ping)(ping)(ping)校準和日常測(ce)試，天(tian)平(ping)(ping)(ping)處于水平(ping)(ping)(ping)狀態且(qie)性(xing)能(neng)正常。

樣品無憂——再(zai)也不受(shou)靜電問題困擾！

靜電(dian)是分析(xi)稱(cheng)量(liang)過程面臨的(de)主要挑戰(zhan)。正常操作時(shi)(shi)，容器和樣品很(hen)容易(yi)吸附靜電(dian)荷，從(cong)而導致(zhi)稱(cheng)量(liang)誤差。電(dian)荷也(ye)可使粉末狀顆粒(li)飄散，這在處(chu)理(li)昂(ang)貴或有毒物質時(shi)(shi)容易(yi)造成額外的(de)問(wen)題(ti)。新超越系列(lie)天(tian)平的(de)智能靜電(dian)檢測和去靜電(dian)解決方案(an)可避免稱(cheng)量(liang)誤差，并使樣品處(chu)理(li)更(geng)加簡(jian)單安全。

過程無(wu)憂——減少錯誤的又一里程(cheng)碑！

梅特勒-托(tuo)利(li)多(duo)的(de)(de)LabX軟(ruan)件可顯著提(ti)升實驗室(shi)的(de)(de)影響力，是保(bao)證過(guo)程(cheng)安全性(xing)和(he)管(guan)理稱量不確定性(xing)的(de)(de)*解決方案(an)。LabX在提(ti)供基于(yu)天平觸摸屏的(de)(de)靈(ling)活的(de)(de)SOP用(yong)戶(hu)向導方面(mian)*。自動數據處(chu)理、計(ji)算和(he)生成報告意味著再(zai)也不需要通(tong)過(guo)手(shou)工(gong)記(ji)錄，避免了抄錄誤差并確保(bao)了*可追溯性(xing)。新超越(yue)系列天平輕松(song)地滿足至高過(guo)程(cheng)安全要求，并幫助(zhu)您建立無紙化實驗室(shi)。

狀(zhuang)態指示燈

狀態(tai)指示(shi)燈清晰地顯示(shi)天(tian)平(ping)是否已準備好(hao)開始稱(cheng)量(liang)任(ren)務。綠色(se)表示(shi)天(tian)平(ping)準備運行，黃色(se)表示(shi)天(tian)平(ping)通過(guo)TestManager連接(jie)至日常測(ce)試，紅色(se)表示(shi)對天(tian)平(ping)失去平(ping)衡等錯誤立即(ji)采取糾正(zheng)措施(shi)。

使用天平觸摸(mo)屏(ping)，可在(zai)(zai)Test-Manager嵌入式(shi)軟件中進行SOP測試(shi)。無論(lun)何時(shi)進行測試(shi)，都會在(zai)(zai)屏(ping)幕上顯(xian)示(shi)消息(xi)，您只需遵循隨附的測試(shi)說明即可。

*稱(cheng)量結果

除了(le)稱(cheng)量(liang)舒適度外，獲得的測量(liang)技術(shu)還在(zai)發揮著幕后作(zuo)用，為(wei)您提供zui高的分辨率、zui為(wei)快速和zui可(ke)靠的結果以及zui低的zui小稱(cheng)量(liang)值（僅14mg）！

良好的稱量規范

清潔、安全

SmartGrid網(wang)格稱盤(pan)：所有溢出的(de)(de)樣品都可(ke)(ke)通過秤盤(pan)落下(xia)，而不會影(ying)響(xiang)您的(de)(de)稱量結果，下(xia)方的(de)(de)滴盤(pan)可(ke)(ke)輕松地捕獲溢漏的(de)(de)任(ren)何固體和液體，以便安(an)全處理。

防風罩：zui大限度降低樣品污染風險：防風罩和滴盤無需工具即可在數秒鐘內*拆卸。
可(ke)(ke)在洗(xi)碗機中(zhong)(zhong)安全清洗(xi)：所有部件均可(ke)(ke)在洗(xi)碗機中(zhong)(zhong)方(fang)便、*地清潔。

梅特勒XPE分析天平技術參數

zui大秤量320 g

可讀性0.1 mg

zui小稱量值 (USP)，典型值82 mg

重復性（校驗砝碼）0.08 mg (20 g)

線性誤差（典型值）±0.4 mg

穩定時間1.5 s

尺寸 (高x寬)322 mm x 263 mm