在超(chao)越系列XP/XS分析天平(ping)分析天平(ping)市場(chang)10年之際,梅特勒-托利多于2014年推出新超(chao)越系列XPE/XSE新一(yi)代分析天平(ping),將稱量智能化推向了(le)*的高度!

梅特勒XSE 分析天平將稱量與眾多智(zhi)能(neng)特性(xing)相(xiang)結(jie)合，讓您的日常稱量任務(wu)變得準(zhun)確無誤(wu)。您不僅可(ke)以(yi)體(ti)驗到新超越系列分析天平提(ti)供的稱量性(xing)能(neng)，更可(ke)以(yi)確保(bao)全面的法規(gui)*性(xing)，以(yi)及至高的過(guo)程安全性(xing)。

儀器無(wu)憂——我明白稱量很安全！

全新智能(neng)安全工具(ju)可(ke)監控天(tian)平(ping)的狀(zhuang)態(tai)，以確保安全地開始稱量任(ren)務。創(chuang)新的狀(zhuang)態(tai)指(zhi)示燈(StatusLight)讓您只需(xu)看一(yi)眼即可(ke)了解(jie)稱量是否開啟綠燈：執行了的天(tian)平(ping)校準和日常測(ce)試，天(tian)平(ping)處于水(shui)平(ping)狀(zhuang)態(tai)且性能(neng)正常。

樣品(pin)無(wu)憂——再也(ye)不受靜電問(wen)題(ti)困(kun)擾！

靜電(dian)(dian)是分析稱(cheng)量(liang)過程面臨(lin)的主要挑戰。正(zheng)常(chang)操作(zuo)時(shi)，容(rong)器和(he)樣品(pin)很容(rong)易吸附靜電(dian)(dian)荷(he)，從(cong)而導致稱(cheng)量(liang)誤(wu)差(cha)。電(dian)(dian)荷(he)也可使(shi)粉(fen)末(mo)狀(zhuang)顆(ke)粒飄散，這(zhe)在處理昂貴或(huo)有毒物(wu)質時(shi)容(rong)易造(zao)成額(e)外的問題。新(xin)超(chao)越(yue)系列天(tian)平的智能靜電(dian)(dian)檢(jian)測(ce)和(he)去靜電(dian)(dian)解(jie)決(jue)方案(an)可避免稱(cheng)量(liang)誤(wu)差(cha)，并(bing)使(shi)樣品(pin)處理更加簡單(dan)安全。

過程無(wu)憂——減少錯(cuo)誤的(de)又一里程碑！

梅特勒-托利(li)多的LabX軟件可顯著(zhu)提(ti)(ti)升實(shi)驗室的影響力，是(shi)保證過(guo)(guo)程安全性(xing)(xing)和管(guan)理(li)稱量不(bu)確定(ding)性(xing)(xing)的*解決方案。LabX在提(ti)(ti)供(gong)基于(yu)天(tian)平觸摸屏的靈(ling)活的SOP用戶向導方面(mian)*。自(zi)動數據處理(li)、計(ji)算(suan)和生(sheng)成報告(gao)意味著(zhu)再(zai)也不(bu)需要通過(guo)(guo)手(shou)工記錄，避免了抄錄誤差并(bing)確保了*可追(zhui)溯性(xing)(xing)。新超越(yue)系列天(tian)平輕松(song)地滿(man)足至高過(guo)(guo)程安全要求，并(bing)幫助您(nin)建(jian)立(li)無紙(zhi)化實(shi)驗室。

狀態指示(shi)燈

狀態指示(shi)(shi)燈(deng)清晰地顯示(shi)(shi)天(tian)平(ping)(ping)(ping)是否已準(zhun)備(bei)好開始(shi)稱量(liang)任務。綠色(se)表(biao)示(shi)(shi)天(tian)平(ping)(ping)(ping)準(zhun)備(bei)運行，黃(huang)色(se)表(biao)示(shi)(shi)天(tian)平(ping)(ping)(ping)通過TestManager連接至日(ri)常測試，紅色(se)表(biao)示(shi)(shi)對天(tian)平(ping)(ping)(ping)失去平(ping)(ping)(ping)衡等(deng)錯誤立即(ji)采取糾正措施。

使用天平觸摸屏(ping)，可在Test-Manager嵌入式軟件(jian)中進行(xing)SOP測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。無論(lun)何時進行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，都會在屏(ping)幕上(shang)顯示消(xiao)息，您只(zhi)需遵循隨附的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)說明(ming)即可。

*稱量(liang)結果

除(chu)了稱(cheng)量(liang)舒適度外，獲得(de)的(de)測量(liang)技術還在(zai)發揮著幕后作(zuo)用，為您提(ti)供zui高的(de)分辨率、zui為快速和zui可靠的(de)結(jie)果(guo)以及zui低的(de)zui小(xiao)稱(cheng)量(liang)值（僅14mg）！

梅特勒XSE 分析天平采用*的(de)設計(ji)，將稱重傳感器和(he)電子元件安裝在天平的(de)背部。 您可獲得的(de)利(li)益：不受散熱影響(xiang)且易于(yu)清潔，因此可獲得更(geng)好的(de)稱量(liang)性能。 獲得的(de)設計(ji)具(ju)備(bei)以(yi)下關鍵(jian)特征：

• SmartGrid技術能(neng)夠以zui快速、清潔的方式完(wan)成稱量任務

• 內部溫度(du)控制(zhi)(ITC)裝置無(wu)需單(dan)或外部電子(zi)元件即可(ke)確保獲得zui小稱量值。

• proFACT 版(ban)本確保準確性和溫度(du)穩定性并符合內部(bu)測試規(gui)定

良(liang)好的(de)稱量規范

新型(xing)XSE和XPE分(fen)析天平(ping)依照(zhao)GWP研(yan)發(fa)而成(cheng)。 梅特(te)勒-托利多(duo)開(kai)發(fa)出GWP(Good Weighing Practice)，作為安全選(xuan)擇、校準(zhun)(zhun)(zhun)和操(cao)作稱(cheng)重設(she)備的(de)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)化科學方法。GWP提供的(de)可再現性稱(cheng)重結果書面(mian)憑證符合當前所(suo)有實驗室(shi)和制造業的(de)質量(liang)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)。 關注穩定的(de)過程、*的(de)產品(pin)質量(liang)、精益(yi)制造或遵(zun)守法規的(de)用戶可使用GWP作為選(xuan)擇和校準(zhun)(zhun)(zhun)其稱(cheng)重設(she)備的(de)基(ji)準(zhun)(zhun)(zhun)。

清潔、安全

• SmartGrid網格稱盤：所(suo)有(you)溢出(chu)的樣品都可(ke)通過(guo)秤盤落下，而不會(hui)影響您的稱量結果，下方的滴盤可(ke)輕松地捕獲溢漏的任何固體和液體，以便安全處理。

• 防風罩：zui大限度降低樣品污染風險：防(fang)風罩和滴盤(pan)無(wu)需工具即(ji)可(ke)在(zai)數秒鐘內*拆卸(xie)。

• 可(ke)在洗碗(wan)機中(zhong)安全清(qing)洗：所(suo)有部(bu)件均可在洗碗機中方便、*地清潔。

技術參數