在超越系列(lie)XP/XS分(fen)析天平分(fen)析天平市(shi)場10年(nian)之際,梅特勒(le)-托利(li)多于2014年(nian)推出(chu)新(xin)超越系列(lie)XPE/XSE新(xin)一代分(fen)析天平,將稱量智能(neng)化推向(xiang)了*的高度!

梅特勒XSE 分析天平將稱量(liang)與眾多智能特(te)性(xing)相結(jie)合，讓您的(de)日常稱量(liang)任務(wu)變得(de)準確(que)無誤。您不僅可以(yi)體(ti)驗到(dao)新超越系列分析天(tian)平提供(gong)的(de)稱量(liang)性(xing)能，更可以(yi)確(que)保全(quan)面的(de)法規*性(xing)，以(yi)及至高的(de)過程安全(quan)性(xing)。

儀器(qi)無憂——我明(ming)白稱(cheng)量(liang)很安全！

全新(xin)智能安全工(gong)具可監(jian)控天(tian)平的(de)狀(zhuang)態(tai)(tai)，以確(que)保安全地開(kai)始稱量任務。創新(xin)的(de)狀(zhuang)態(tai)(tai)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解稱量是否開(kai)啟綠燈：執(zhi)行了的(de)天(tian)平校(xiao)準(zhun)和日常測試，天(tian)平處于水平狀(zhuang)態(tai)(tai)且性能正常。

樣品(pin)無憂——再也不受靜電(dian)問題(ti)困擾！

靜電是分析稱(cheng)量(liang)過程(cheng)面臨的主要挑戰。正(zheng)常(chang)操(cao)作時，容器(qi)和樣品很容易(yi)(yi)吸附靜電荷(he)，從而導(dao)致稱(cheng)量(liang)誤(wu)差(cha)。電荷(he)也可使(shi)粉末(mo)狀顆(ke)粒飄散(san)，這在處理(li)昂貴(gui)或(huo)有毒物質時容易(yi)(yi)造成額外(wai)的問題。新超越系(xi)列天平的智(zhi)能(neng)靜電檢(jian)測(ce)和去靜電解決方案可避(bi)免稱(cheng)量(liang)誤(wu)差(cha)，并使(shi)樣品處理(li)更加簡單安全。

過程無憂——減(jian)少(shao)錯(cuo)誤的又一里程碑！

梅特勒(le)-托利(li)多的(de)LabX軟件可顯著(zhu)提升實驗室(shi)的(de)影響力(li)，是保證過程(cheng)(cheng)安(an)全性(xing)和管理稱量不確定性(xing)的(de)*解決方案。LabX在提供基(ji)于天平觸摸屏(ping)的(de)靈活的(de)SOP用戶向導方面*。自動數(shu)據處理、計算和生成報告意味著(zhu)再也不需要(yao)通過手(shou)工記錄，避(bi)免(mian)了抄錄誤差并確保了*可追溯性(xing)。新超越系(xi)列天平輕松(song)地滿足至高過程(cheng)(cheng)安(an)全要(yao)求，并幫助您建立無紙化實驗室(shi)。

狀態指(zhi)示燈

狀態指示(shi)燈(deng)清晰(xi)地顯(xian)示(shi)天(tian)(tian)平(ping)是否已準備好(hao)開始稱量任(ren)務。綠色(se)表(biao)(biao)示(shi)天(tian)(tian)平(ping)準備運行(xing)，黃色(se)表(biao)(biao)示(shi)天(tian)(tian)平(ping)通(tong)過(guo)TestManager連接至日常測試(shi)，紅色(se)表(biao)(biao)示(shi)對(dui)天(tian)(tian)平(ping)失去(qu)平(ping)衡等錯誤立即采取糾正措施(shi)。

使用天平觸摸屏(ping)，可在Test-Manager嵌入式軟件中進(jin)行(xing)SOP測(ce)(ce)試(shi)。無論何時進(jin)行(xing)測(ce)(ce)試(shi)，都會在屏(ping)幕(mu)上顯示(shi)消息，您只(zhi)需(xu)遵循(xun)隨(sui)附的測(ce)(ce)試(shi)說明即可。

*稱量(liang)結果(guo)

除了稱(cheng)量(liang)舒適(shi)度(du)外，獲得的測量(liang)技(ji)術還在發揮著(zhu)幕后作用，為您提供zui高的分辨(bian)率、zui為快(kuai)速和zui可靠的結果以及zui低的zui小稱(cheng)量(liang)值（僅14mg）！

梅特勒XSE 分析天平采用*的(de)設計，將稱重傳感器和(he)電子元件(jian)安(an)裝(zhuang)在天平的(de)背部。 您可獲(huo)得(de)的(de)利益(yi)：不(bu)受散熱(re)影響且(qie)易于(yu)清(qing)潔，因此可獲(huo)得(de)更(geng)好的(de)稱量性能(neng)。 獲(huo)得(de)的(de)設計具備以(yi)下關鍵特征：

• SmartGrid技術能夠(gou)以zui快速、清潔的方式(shi)完成稱(cheng)量(liang)任務

• 內(nei)部(bu)溫度(du)控制(ITC)裝置無需(xu)單或(huo)外部(bu)電子(zi)元件即可確(que)保獲(huo)得zui小稱(cheng)量值。

• proFACT 版本確保(bao)準確性(xing)和(he)溫度穩定性(xing)并符合內部測試(shi)規定

良好的稱(cheng)量規范

新型(xing)XSE和XPE分(fen)析天(tian)平依照GWP研發而成。 梅特(te)勒-托利多開(kai)發出(chu)GWP(Good Weighing Practice)，作為安全選(xuan)擇、校(xiao)準(zhun)和操作稱重(zhong)設(she)備的(de)(de)標準(zhun)化科學方法。GWP提供的(de)(de)可(ke)再現性(xing)稱重(zhong)結果(guo)書面(mian)憑證符合當前所有實驗(yan)室和制造(zao)業的(de)(de)質(zhi)量標準(zhun)。 關(guan)注穩定的(de)(de)過程、*的(de)(de)產品(pin)質(zhi)量、精益制造(zao)或遵守法規的(de)(de)用戶可(ke)使用GWP作為選(xuan)擇和校(xiao)準(zhun)其(qi)稱重(zhong)設(she)備的(de)(de)基(ji)準(zhun)。

清(qing)潔、安全(quan)

• SmartGrid網格稱盤：所有溢出(chu)的樣品都(dou)可(ke)通過(guo)秤(cheng)盤落下，而不會影響您的稱量結果，下方的滴盤可(ke)輕松(song)地捕(bu)獲溢漏的任何固體(ti)和(he)液體(ti)，以便安全(quan)處理(li)。

• 防風罩：zui大限度降低(di)樣(yang)品污染風險(xian)：防(fang)風罩和滴(di)盤無需(xu)工具即可(ke)在數秒鐘內*拆(chai)卸。

• 可在(zai)洗碗機中(zhong)安全(quan)清(qing)洗：所有部(bu)件均可在洗碗機(ji)中(zhong)方便、*地清潔。

技(ji)術參數(shu)