EA8000 X射線熒光光譜儀產品特點：

1. 可在幾分鐘內對250×200 mm的樣品檢測出20 µm的金屬異物

例如要檢(jian)測250×200 mm（約B5尺寸）的電(dian)池電(dian)極板(ban)中20 µm的(de)金屬(shu)異物，以往的(de)X射線透視檢查儀需要十小(xiao)時(shi)左右(you)的(de)攝(she)像時(shi)間。株式(shi)會(hui)社日(ri)立高新技術科學通過新型(xing)X射線透視方法的開發，成(cheng)功縮短了(le)時間。檢測速度成(cheng)功達到了(le)以往(wang)的100倍以上，可在(zai)3～10分鐘內完成(cheng)

2. 通過(guo)圖像(xiang)處(chu)理(li)自動檢測(ce)出異物

針(zhen)對快速拍攝(she)的250×200 mm的X射(she)線投射(she)圖(tu)的整面進(jin)行快速(su)圖(tu)像處理，自(zi)動檢測出異物(wu)點。

3. 對于檢測出的異物點進行自動(dong)元素分析

只針對自動檢測出的 異(yi)物(wu)點進行X射線熒(ying)光掃(sao)描，自動(dong)分(fen)析元(yuan)素。

4. 電極板中的微(wei)小金(jin)屬元素也可進行元素識(shi)別

對于樣品(pin)中檢測出來(lai)的金屬異物，自動通過X射(she)線熒光(guang)法進行(xing)元素識別(bie)。例如，以往在(zai)(zai)檢測電(dian)極板中(zhong)可能存在(zai)(zai)的20 µm左右的(de)(de)微小(xiao)金屬異物，只能(neng)分析存(cun)在于(yu)(yu)樣品表面的(de)(de)異物。這是由(you)(you)于(yu)(yu)存(cun)在于(yu)(yu)內部時，由(you)(you)異物產生的(de)(de)熒光(guang)X射線會被基(ji)材所吸收，信號(hao)強度非常微弱(ruo)。EA8000通過自研發的高能量X射線光學系統，可(ke)對電極、有(you)機薄(bo)膜內部所含的20 µm大(da)小的微小金屬異物進(jin)行元素分(fen)析(xi)。

5. 一體(ti)化操作，提高工作效率

與(yu)以(yi)往的(de)技(ji)術(shu)相比，金屬異物的(de)檢測速(su)度、元素分(fen)析速(su)度大(da)幅提(ti)高(gao)，并且把顯(xian)微鏡(jing)等都組合在一(yi)臺儀器內，各個系統聯動可(ke)全自動輸(shu)出測量結果。因此(ci)，操作(zuo)人員只需(xu)放置好樣品，即可(ke)獲得(de)測量結果，大(da)大(da)提(ti)升了作(zuo)業效率。

EA8000 X射線熒光光譜儀技術參數：

EA8000 X射線熒光光譜儀