梅特勒電子分析天平屬于精(jing)密(mi)電子儀器，因(yin)此(ci)我(wo)們在使(shi)用的過程中要掌握正(zheng)確的使(shi)用方法，操作不當往(wang)往(wang)會產(chan)生一些問(wen)題(ti)，那么我(wo)們該如(ru)何解決這些問(wen)題(ti)呢？下(xia)面我(wo)們就一起(qi)來了解一下(xia)。
梅特勒電子分析天平的故障及其處理(li)方法：
1、稱量不(bu)準確的故障(zhang)分析
觀(guan)測內碼值是否(fou)(fou)穩(wen)定，傳感器各部(bu)位是否(fou)(fou)有摩擦現象(xiang)，穩(wen)壓電源是否(fou)(fou)穩(wen)定，運放電路是否(fou)(fou)正(zheng)常，使用砝碼測試秤盤四腳秤量(liang)是否(fou)(fou)平均。依(yi)照說明書指示，進一步做(zuo)儀表局部(bu)分析或重量(liang)校正(zheng)。
2、稱重物移(yi)除后無法(fa)回到零點的故障分析
檢查(cha)傳(chuan)(chuan)感(gan)(gan)器(qi)輸(shu)(shu)出(chu)信號值(zhi)是否于標準內(nei)(A/D的總放大(da)碼(ma)/使用內(nei)碼(ma)范圍/底碼(ma)范圍)，如果信號值(zhi)未在(zai)標準內(nei)，調(diao)節傳(chuan)(chuan)感(gan)(gan) 器(qi)可調(diao)電(dian)(dian)阻，將信號值(zhi)調(diao)到(dao)標準內(nei)，如無法補(bu)償(chang)請檢查(cha)傳(chuan)(chuan)感(gan)(gan)器(qi)是否有問(wen)(wen)題(ti)，在(zai)保(bao)證傳(chuan)(chuan)感(gan)(gan)器(qi)輸(shu)(shu)出(chu)正常(秤體穩定)情況下，鎖定儀(yi)表故障，一般(ban)是放大(da)電(dian)(dian)路及(ji)A/D轉 換電(dian)(dian)路發生(sheng)問(wen)(wen)題(ti)，再依據電(dian)(dian)路原理逐一判(pan)斷測試分析，以zui終解決問(wen)(wen)題(ti)。
3、梅特勒電子分析天平無法開機的故障
先確定非(fei)保險絲、電(dian)(dian)(dian)源開關、電(dian)(dian)(dian)源線(xian)及(ji)(ji)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)切(qie)換開關的(de)問題所造(zao)(zao)成(cheng)，檢(jian)查(cha)變壓(ya)(ya)(ya)器有(you)無交流(liu)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)輸(shu)入及(ji)(ji)交流(liu)電(dian)(dian)(dian)輸(shu)出。如果儀表 帶有(you)電(dian)(dian)(dian)池(chi)將電(dian)(dian)(dian)池(chi)取下再(zai)以(yi)AC電(dian)(dian)(dian)源開機，以(yi)了(le)解是否為(wei)電(dian)(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)不足所造(zao)(zao)成(cheng)。其次再(zai)檢(jian)測整流(liu)電(dian)(dian)(dian)路、穩壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)路以(yi)及(ji)(ji)顯示(shi)驅(qu)動電(dian)(dian)(dian)路是否出現異常，如果這(zhe)些(xie)都沒(mei)問題檢(jian) 查(cha)處(chu)理器及(ji)(ji)附屬(shu)電(dian)(dian)(dian)路是否燒壞。
4、梅特勒電子分析天平顯示(shi)亂碼
將原來的(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)電(dian)路(lu)(lu)拆下，換一個正常(chang)的(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)電(dian)路(lu)(lu)看(kan)是(shi)否(fou)(fou)正常(chang)。如(ru)果(guo)(guo)顯(xian)(xian)示(shi)正常(chang)說明(ming)顯(xian)(xian)示(shi)電(dian)路(lu)(lu)出(chu)現問題，如(ru)果(guo)(guo)不正常(chang)，應檢查(cha)驅(qu)動電(dian)路(lu)(lu)是(shi)否(fou)(fou)有故障，zui后檢查(cha)處理器(qi)顯(xian)(xian)示(shi)輸出(chu)的(de)(de)(de)引腳是(shi)否(fou)(fou)在(zai)合理的(de)(de)(de)輸出(chu)范圍。
5、梅特勒電子分析天平按鍵不好用
先更(geng)換新(xin)按(an)(an)鍵(jian)進行測(ce)試，如新(xin)按(an)(an)鍵(jian)功能正常時，則可判定為按(an)(an)鍵(jian)接觸不良，測(ce)量按(an)(an)鍵(jian)與CPU之(zhi)間線路(lu)(lu)有無斷(duan)路(lu)(lu)、虛焊。檢查按(an)(an)鍵(jian)支座(zuo)是(shi)否有接觸不良現象。測(ce)量按(an)(an)鍵(jian)與CPU回路(lu)(lu)上的(de)二極管(guan)、電阻等是(shi)否有短路(lu)(lu)、斷(duan)路(lu)(lu)的(de)情況。
6、梅特勒電子分析天平無(wu)法(fa)稱到(dao)滿載
和無法(fa)回(hui)零(ling)的情況(kuang)差不多，多數可能由于(yu)小信號輸入(ru)范圍發(fa)生了改變(bian)。按照無法(fa)回(hui)零(ling)的方(fang)法(fa)檢測，如果找不出(chu)問題，就先(xian)檢測供電(dian)電(dian)源、A/D電(dian)路是否(fou)正常，再檢測傳感器輸出(chu)。
7、梅特勒電子分析天平指(zhi)針(zhen)跳動
當橫(heng)梁(liang)被托(tuo)起時(shi)，如支(zhi)點刀的刀口與(yu)刀墊間前后距(ju)離不等，則開啟梅特勒電子分析天平時，會(hui)產生指針跳動(dong)，可把橫(heng)托架左臂前的(de)(de)螺絲放松，然后用手捻(nian)調節小支柱的(de)(de)高度，直至指針不再跳動(dong)。
8、梅特勒電子分析天平開機自檢無(wu)法通過，出現下(xia)列故障代碼(ma)
“EC1”：CPU損壞
“EC2”：鍵盤錯(cuo)誤
“EC3”：天平存儲數據(ju)丟失
“EC4”：采樣模塊沒(mei)有(you)啟動
原因：致(zhi)命錯誤造成天平(ping)不能正常工作
解決方法： 請將(jiang)天平送廠家修理
9、故障現象：梅特勒電子分析天平顯示(shi)“L”
原(yuan)因：
1)沒有安放秤盤(pan)
2)秤盤下面有異物
3)氣(qi)流罩(zhao)與秤盤(pan)碰在一(yi)起
梅特勒電子分析天平解(jie)決方法(fa)：
1)將(jiang)秤盤安置在秤盤座上
2)輕輕拿起(qi)秤(cheng)盤檢(jian)查(cha)是否有異物在秤(cheng)盤下，拿走異物
3)輕輕轉動秤盤或(huo)氣流(liu)罩查看是否有碰(peng)的現象，調(diao)整氣流(liu)罩的位(wei)置(zhi)
10、故障現象：加載梅特勒電子分析天平顯示“H”
原(yuan)因：
1)秤盤上加(jia)載物體過(guo)重(zhong)，超出zui大量(liang)程
2)曾用小于校準砝碼值(zhi)的(de)砝碼或其它物體校準過天平，導致(zhi)放上正常量程內的(de)重量顯示超重。
解(jie)決方(fang)法：
1)只在量(liang)程范圍(wei)內稱(cheng)量(liang)
2)用正確的砝碼重新(xin)進行(xing)校準(zhun)。
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