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梅特勒天平的校準方法
更新時間:2019-07-18   點擊次數:11859次

梅特勒天平作為實驗室常用基礎儀器,其作用主要是稱量物體質量,想要實驗結果更加準確可靠,實驗中樣品的量必須準確。為了保證實驗結果的準確性,必須保證梅特勒電子天平測量的準確度,在使用前或測量環境改變后都要進行校準操作。下面,我們就來看看梅特勒電子天平如何校準。

   梅特勒電子天平有內校和外校兩種校準方式。

 1.  內(nei)(nei)校(xiao)(xiao):內(nei)(nei)校(xiao)(xiao)型梅(mei)特勒(le)天平(ping)使用方便,但價格稍高。校(xiao)(xiao)準時只需長按CAL鍵就可以完成校(xiao)(xiao)準過程(cheng)。內(nei)(nei)校(xiao)(xiao)型電(dian)子(zi)天平(ping)如梅(mei)特勒(le)型分析(xi)天平(ping)(AB-S/FACT系列),如圖(tu)1.

梅特勒XS天平.jpg        特勒型分析天平(AB-S/FACT系列)
 2. 外校(xiao)(xiao):外校(xiao)(xiao)型梅特(te)勒天平(ping)(ping)對砝碼(ma)要求較(jiao)高,砝碼(ma)有灰塵、磨損時都(dou)會對校(xiao)(xiao)準(zhun)結果(guo)產生影響。校(xiao)(xiao)準(zhun)時先按CAL鍵,直到(dao)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)屏(ping)(ping)(ping)上顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)CAL-,再把標準(zhun)砝碼(ma)放(fang)(fang)入天平(ping)(ping)秤盤(pan)上,完成(cheng)校(xiao)(xiao)準(zhun)過程。例如,顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)屏(ping)(ping)(ping)出現CAL-100時,把 100g標準(zhun)砝碼(ma)放(fang)(fang)入稱盤(pan),隨(sui)后顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)屏(ping)(ping)(ping)出現“----”等待(dai)狀態(tai),當顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)屏(ping)(ping)(ping)出現100.000g時,取走標準(zhun)砝碼(ma),此時顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)屏(ping)(ping)(ping)應顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)0.000g,若讀數 不為零(ling),則(ze)清(qing)零(ling)后再次進(jin)行校(xiao)(xiao)準(zhun)操作以完成(cheng)校(xiao)(xiao)準(zhun)過程。外校(xiao)(xiao)型梅特(te)勒天平(ping)(ping)如梅特(te)勒XP超(chao)越系(xi)列分析天平(ping)(ping),如圖2.


    30026427.png      梅特勒XP超越系列分析天平
    需要注(zhu)意的是(shi),梅特(te)勒電子天平的準確(que)度和(he)內校、外校沒有(you)直接的關(guan)系,還應(ying)綜合考慮其它技術指標(biao)來選(xuan)購合適的梅特(te)勒電子天平。

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