信號部(bu)分：
; （1）樣品信號重現性(xing)不(bu)良(liang)；
原因：排除儀器(qi)本身的(de)原因外，大(da)的(de)可(ke)能是樣品(pin)溶液不均勻所致(zhi)；在(zai)簡易的(de)單光束儀器(qi)中，樣品(pin)池架一(yi)般為推拉式的(de)，有(you)時重復推拉不在(zai)同一(yi)個位置上；
檢(jian)查：更換一(yi)種(zhong)穩定(ding)(ding)的試樣判定(ding)(ding)；
解決(jue)辦(ban)法：采取正確(que)的(de)試樣配置手段；修(xiu)理推拉式(shi)樣品架的(de)定位碰(peng)珠；
（2）做基線(xian)掃(sao)描或樣品掃(sao)描時，基線(xian)或信號(hao)有一個大的負(fu)脈沖；
原因(yin)：掃(sao)描速度設置(zhi)得過快，信號在讀取(qu)時，誤(wu)將濾光片或光源鏡(jing)的切(qie)換當(dang)做信號讀取(qu)了；
檢查：改變掃描速(su)度；
（3）做基線掃描或樣(yang)品(pin)掃描時(shi)，基線或信(xin)號有一個(ge)長時(shi)間段的負值或滿(man)屏大噪(zao)聲；
原因：濾光片(pian)飼服電機“失(shi)步(bu)”，造成(cheng)檔位錯位，國產電機尤甚；
檢查：重新開(kai)機有可能回復，或打(da)開(kai)單色器對(dui)照波長(chang)與濾光(guang)片(pian)的相對(dui)位置(zhi)來檢查（注意：打(da)開(kai)單色器時要(yao)保護檢測器不被(bei)強光(guang)刺激）；
解決辦法：更換飼服電機；
（4）樣品(pin)出峰位置不(bu)對；
原因：波長傳(chuan)動機構產生位移(yi)；
檢(jian)查：通過氘燈的(de)656.1nm的(de)特(te)征譜線來判(pan)斷波長是否準確；
解決辦法：對(dui)于(yu)儀器而(er)言處理手段(duan)相(xiang)對(dui)簡單，使用儀器固有的自動校正(zheng)功能即(ji)可；而(er)對(dui)于(yu)相(xiang)對(dui)簡單的儀器，這種調整則(ze)需要(yao)專(zhuan)業(ye)人員來進行了；
（5）信號的(de)分辨率(lv)不夠，具(ju)體(ti)表現是：本應疊加在(zai)某一大峰上的(de)小峰無法觀察到(dao)；
原因：狹縫設置(zhi)過窄而(er)掃描速(su)(su)度過快(kuai)，造成檢測器(qi)響應(ying)速(su)(su)度跟不上，從而(er)失去應(ying)測到的(de)信號(hao)；按常理，一定的(de)狹縫寬度要對應(ying)一定范圍的(de)掃描速(su)(su)度；或者狹縫設置(zhi)得過寬，使儀器(qi)的(de)分辨率下降，將小峰(feng)融合在大(da)峰(feng)里了。
檢查：放慢掃描速度看一看或將狹縫(feng)設窄；
解決辦法：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常(chang)數三者擬(ni)合成一個優化的(de)條件；
（6）當波(bo)長固(gu)定(ding)在某(mou)個(ge)波(bo)長下時(shi)，吸光(guang)值(zhi)信(xin)號上(shang)下擺動，特別(bie)是測(ce)量模式轉換為(wei)按鍵(jian)開關式的簡易儀器；
原因：開關(guan)觸(chu)點因長期氧化(hua)所致造成接觸(chu)不良(liang)；
檢查：用(yong)手加重力量按琴鍵(jian)時，吸光值隨之變化(hua)；
解決辦(ban)法：用金(jin)屬活(huo)化劑清洗按鍵觸點即(ji)可(ke)；
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