Agilent5975C系列GC/MSD構建(jian)在行業、高可靠性(xing)和高性(xing)能的(de)色(se)譜(pu)分析技術堅實的(de)基礎(chu)之(zhi)上，配置三軸HED-EM檢測(ce)器(qi)，大大增(zeng)強了產品性(xing)能，因(yin)此顯著地提高了分析性(xing)能，將您的(de)實驗(yan)室的(de)GC分析效率推向新的(de)高度。
高溫整體惰性離子源提升儀器的性能
的(de)惰性(xing)離子源滿足三個基本(ben)要(yao)求。化(hua)學惰性(xing)將活性(xing)組分(fen)和中性(xing)化(hua)合物的(de)損(sun)失降至zui低(di)。高溫(350?C)有助于(yu)(yu)高沸點組分(fen)的(de)峰形(xing)改善，zui大程度地降低(di)了由于(yu)(yu)高沸點組分(fen)導致的(de)離子源的(de)污染(ran)。延伸(shen)至四極桿內的(de)新穎設計的(de)透鏡，將優化(hua)的(de)傳(chuan)輸離子聚(ju)焦到RF/DC場中，得到業內*的(de)信噪比。
*標準的四極桿設計和性能
*的(de)四極(ji)桿(gan)具有(you)的(de)性能和可(ke)靠性。真(zhen)正雙曲面石英(ying)結構的(de)場誤差zui低,分辨率(lv)更高和在任何工(gong)作溫(wen)度(du)下都具有(you)優異的(de)質(zhi)量(liang)軸穩定。事實上(shang)，這(zhe)個非凡(fan)的(de)整體穩定性的(de)石英(ying)鍍金四極(ji)桿(gan)允許200?的(de)溫(wen)度(du)，從而保證質(zhi)量(liang)分析(xi)器在整個生(sheng)命(ming)周期都保持干凈狀態。
三軸檢測器
三軸檢(jian)測器將從(cong)四極桿(gan)傳輸(shu)過來的(de)(de)離(li)子(zi)束在進入到電子(zi)倍(bei)增(zeng)(zeng)器之(zhi)前(qian)轉(zhuan)兩(liang)次彎。這個(ge)創(chuang)新(xin)的(de)(de)的(de)(de)設(she)計使得(de)離(li)子(zi)的(de)(de)捕集效(xiao)率(lv)提高（信號增(zeng)(zeng)強）而(er)中性(xing)信號被過濾。檢(jian)測器采用新(xin)型的(de)(de)三通(tong)道倍(bei)增(zeng)(zeng)器，其放大倍(bei)數和壽命(ming)都有顯著的(de)(de)提升。安捷倫新(xin)型的(de)(de)電子(zi)倍(bei)增(zeng)(zeng)器歸(gui)一化調諧(xie)優化功(gong)能保證了離(li)子(zi)數、線性(xing)和電子(zi)倍(bei)增(zeng)(zeng)器壽命(ming)三者之(zhi)間(jian)達(da)到了*的(de)(de)平(ping)衡(heng)。而(er)且歸(gui)一化調諧(xie)使得(de)在倍(bei)增(zeng)(zeng)器老化之(zhi)后還能得(de)到一致的(de)(de)靈敏度以及(ji)有利于不(bu)同氣質之(zhi)間(jian)的(de)(de)結果比對。
微量離子檢測和第二代的解卷積報告軟件（DRS）對于復雜樣品的痕量組分的分析達到了新的水平。
微量(liang)離子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)（TID）從基(ji)線，峰和(he)譜(pu)圖(tu)中過濾掉噪音以提(ti)(ti)高檢(jian)測(ce)靈敏度，它可以配(pei)或不配(pei)解卷(juan)積報告軟件（DRS）。對于復雜(za)樣(yang)品(pin)分(fen)(fen)(fen)析中常見的(de)(de)共流出(chu)問題，NISTAMDIS的(de)(de)解卷(juan)積計算是氣質分(fen)(fen)(fen)析復雜(za)樣(yang)品(pin)中痕量(liang)組分(fen)(fen)(fen)的(de)(de)*工(gong)具。在解卷(juan)積處理之后，“干(gan)凈(jing)”的(de)(de)譜(pu)圖(tu)可以提(ti)(ti)供更準確的(de)(de)譜(pu)庫(ku)檢(jian)索結(jie)(jie)果(guo)，基(ji)于解卷(juan)積分(fen)(fen)(fen)析的(de)(de)定(ding)(ding)量(liang)分(fen)(fen)(fen)析結(jie)(jie)果(guo)降低了(le)目標(biao)離子(zi)(zi)定(ding)(ding)量(liang)分(fen)(fen)(fen)析結(jie)(jie)果(guo)的(de)(de)誤差。氣相(xiang)色(se)譜(pu)/質譜(pu)化學(xue)工(gong)作站(zhan)將AMDIS的(de)(de)結(jie)(jie)果(guo)集成于Qedit中以及(ji)報告中，所以用戶可以快速(su)比較標(biao)準和(he)解卷(juan)積分(fen)(fen)(fen)析的(de)(de)結(jie)(jie)果(guo)。利用微量(liang)離子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)和(he)解卷(juan)積報告軟件（DRS），方法檢(jian)測(ce)限(xian)（MDL）和(he)定(ding)(ding)量(liang)限(xian)（LOQ）更低。假陽性和(he)假陰性率(lv)更低，所以結(jie)(jie)果(guo)的(de)(de)可信度大大提(ti)(ti)高。
高性能的選擇離子檢測(SIM)和全掃描
同時進行SIM/Scan的功能能實(shi)現在同一次分(fen)析(xi)(xi)采集選擇(ze)離(li)子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)（ＳＩＭ）和全掃描的數(shu)據，但是不損(sun)失(shi)分(fen)析(xi)(xi)靈敏度(du)。選擇(ze)離(li)子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)的離(li)子(zi)(zi)駐留(liu)時間設定(ding)范圍(wei)一般是100msec到1msec，步(bu)進是1msec。自動選擇(ze)離(li)子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)（ＳＩＭ）可以將全掃描質譜(pu)數(shu)據自動轉(zhuan)換到選擇(ze)離(li)子(zi)(zi)檢(jian)測(ce)或SIM/scan的參數(shu)中(zhong)，這樣大大節約了分(fen)析(xi)(xi)方法的建立時間。
微板流路控制技術大大提高了分析效率，降低了成本，提升了分析能力
第五代EPC，是惰(duo)性(xing)(xing)、低質量(liang)、低死體積的裝置(zhi)，無泄漏，柱(zhu)箱內連接，它為提(ti)(ti)高氣相色(se)譜(pu)能力和(he)(he)性(xing)(xing)能建立(li)了(le)各種配(pei)置(zhi)。對于復雜樣品的GC/MS分析中高沸點組(zu)分遲流(liu)出峰的問題, 反吹是*的工具。更(geng)短的分析時(shi)間、更(geng)少(shao)的離子(zi)源污染，更(geng)常色(se)譜(pu)柱(zhu)壽命為所(suo)有的實(shi)驗室帶來效益。毛細管分流(liu)器和(he)(he)中心切(qie)割（Deansswitching）提(ti)(ti)高了(le)多檢測(ce)器聯用(yong)（ＭＳＤ－ＥＣＤ）和(he)(he)中心切(qie)割分析方法(fa)的可靠(kao)性(xing)(xing)。利用(yong)化學(xue)工作站控制，這些功能已經成為氣－質聯用(yong)分析的常規方法(fa)。
氣相色(se)譜/質譜工作站軟件助您完成日常工作中的每一次分析工作
安(an)捷倫氣相(xiang)色譜(pu)/質譜(pu)化學工作站軟件(jian)操(cao)作簡單，即使不是專(zhuan)家也能(neng)輕松地(di)將(jiang)Agilent5975CGC/MSD的(de)功(gong)能(neng)發揮至*。的(de)功(gong)能(neng)包括(kuo)：
維護和可靠性特點
模塊化分析儀(yi)裝置可以(yi)讓您方便(bian)地接觸到離(li)子(zi)(zi)源(yuan)和電子(zi)(zi)倍增器以(yi)便(bian)快速地進行儀(yi)器的日常維護(hu)。
前(qian)置式玻璃可(ke)視窗可(ke)使您檢查離子源(yuan)類型以及連接狀況。
高可靠性的真(zhen)空系(xi)統(tong)將(jiang)長(chang)期穩定性發揮(hui)到zui大；可選擇無油機械泵，這樣可以*免去維護(hu)，降低噪音，以及在(zai)含有氨(an)氣那樣的腐蝕(shi)性環(huan)境中工作(zuo)。
所有的5975C氣相色譜/質譜聯用儀都配備(bei)了三軸檢(jian)測(ce)器:
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